Micro-ondes de forte puissance
Parce qu’elle permet la mesure instantanée (signal monocoup) de champ électrique crête au MV/m avec une résolution temporelle < 10 ps aussi bien dans l’air, sous vide ou haute pression que dans des liquides, la solution KAPTEOS répond aux besoins de mesure de micro-ondes de forte puissance (MFP) et de caractérisation d’impulsions électromagnétiques (IEM) dans les domaines de la défense et de la recherche scientifique sur les interactions intenses laser-plasma.
KAPTEOS a réalisé de nombreux systèmes et études pour le compte de ses clients : mesure de MFP dans le domaine de la défense, mesure de champ électrique généré par des armes électromagnétiques, caractérisation d’IEM généré par interaction intense plasma – laser PW en environnement sévère avec rayons X et γ.
Ils utilisent la technologie KAPTEOS pour leur R&D
Liste des publications
"Accurate spectra for high energy ions by advanced time‐of‐flight diamond‐detector schemes in experiments with high energy and intensity lasers"
University La Sapienza, Rome (IT)
INRS-EMT, Québec (CA)
ENEA, Frascati (IT)
University of Rome, Rome (IT)
INFN-LNF, Frascati (IT)
University of Pisa, Pisa (IT)
GoLP, Lisbon (PT)
INFN of Pisa, Pisa, I(IT)
INFN Sezione di Roma, Rome (IT)
Racah Institute of Physics, Jerusalem (IL)
2021
"Electromagnetic Compatibility of a Railgun Implemented on a Warship"
IEEE Transactions on Plasma Science
ISL, Saint-Louis (FR)
2019
Etudes de cas
par L. DUVILLARET
par L. DUVILLARET